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    X射線熒光測量儀FT110A

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    X射線熒光測量儀FT110A

    • 所屬分類:牛津日立鍍層測厚儀

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    • 發布日期:2021/12/07
    • 在線詢價
    詳細介紹

    X射線熒光測量儀FT110A

    1.即放即測!
    2.10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量!
    3.可無標樣測量!
    4.通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置!

    FT110A X射線熒光鍍層厚度測量儀 特長


    1. 通過自動定位功能提高操作性
      測量樣品時,以往需花費約10秒的樣品對焦,現在3秒內即可完成,大大提高樣品定位的操作性。

    2. 微區膜厚測量精度提高
      通過縮小與樣品間的距離等,致使在微小準直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。

    3. 多達5層的多鍍層測量
      使用薄膜FP法軟件,即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。

    4. 廣域觀察系統(選配)
      可從Z大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。

    5. 對應大型印刷線路板(選配)
      可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。

    6. 低價位
      與以往機型相比,既提高了功能性又降低20%以上的價格。


    FT110A X射線熒光鍍層厚度測量儀 規格


    型號FT110A
    測量元素原子序號Ti(22)~Bi(83)
    X射線源空冷式小型X射線管
    管電壓:50(可變更)kV
    管電流:10~1000μA
    檢測器比例計數管
    準直器○型: 0.1 mmΦ、0.2 mmΦ 他2種
    樣品觀察CCD攝像頭
    對焦激光對焦(自動)
    濾波器一次濾波器(自動切換)
    樣品區域[固定]535×530 mm
    [電動] 260×210 mm (移動量X:250 mm, Y:200 mm)
    測量軟件薄膜FP法(Z大2層、10種元素)、檢量線法
    安全功能樣品室門聯鎖、樣品沖突防止功能、儀器診斷功能

    選購項

    • 圖像處理軟件

    • 塊體FP軟件(材料組成分析)

    • 塊體檢量線軟件(電鍍液分析)


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